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科林研發推出乾式光阻技術 有效解決EUV成本與良率權衡問題 【記者呂承哲/台北報導】 Lam Research 科林研發(LRCX)宣布,其創新的乾式光阻(dry resist)技術可直接印刷 28 奈米間距之後段(BEOL)邏輯製程,適用於 2奈米以下先進製程,現已獲得在奈米電子與數位技術領域中,極具領導地位的研究與創新中心 imec 所認證。

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